Q1：AFM制樣條件是什麼？
A：（1）將待測樣品根據需要用水或者酒精分散，待測樣品被分散後整個溶液要是透明的，目測與水或者酒精一樣；
（2）仍是根據需要，選擇是否進行超聲分散以及分散的時間；
（3）將分散好的溶液的上層清液取出來滴在事先準備的矽片基底上，烘乾或者晾乾即可。
Q2：AFM測試模式有哪些？
A：表面形貌測試：可得到樣品表面形貌（2D、3D）以及粗糙度和高度分佈圖；
導電效能測試（C-AFM）：同時得到形貌和電流分佈圖；也可以進行選區I-V曲線測試；
表面電勢測試（AFM-SKPFM）：表面電荷的半定性表徵，能直接測量探針和樣品之間的電勢差；
磁學效能測試（AFM-MFM）：微區磁疇的分佈表徵；
奈米力學測試（AFM-QNM）：力學圖譜測量，可透過擬合力學曲線得到樣品的楊氏模量，得到微區的楊氏模量分佈，適用於較軟樣品高階奈米力學成像模式，可對有機物，高分子以及金屬材料進行掃描，同時得到形貌和模量分佈；
壓電力測量（AFM-PFM）：薄膜，陶瓷，晶體，纖維材料的表面鐵電疇表徵，極化反轉和蝴蝶曲線測試，疇操縱。
Q3：AFM拍攝範圍一般時多大？
A：AFM與SEM、TEM或者金相測試不同，測試時不做倍數要求，AFM一般要告知掃描範圍，常規是10*10nm到10*10μm；尺寸過小，解析度可能達不到，尺寸過大，會增加掃描時間。
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